納米白光干涉儀表面細微三維形貌測量

產(chǎn)品簡介
納米白光干涉儀表面細微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準確獲得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù)，適用于反射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度測量、重構(gòu)表面形貌3D輪廓。

產(chǎn)品型號：PZ-Mico D

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學形貌儀材料試驗機光學軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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納米白光干涉儀表面細微三維形貌測量